Optische und magnetooptische Eigenschaften von UxLa1-xS-Einkristallen und epitaktischen MnPt3- und CrPt3-Filmen

Thema der Arbeit war zum einen die Untersuchung des 5f-Elektronen-Systems UxLa1-xS in Hinblick auf den f-Elektronen-Lokalisierungsgrad mittels optischer Methoden. Weiterhin wurde der Einfluss verschiedener Probenparameter bei der Herstellung dünner MnPt3- und CrPt3-Schichten auf den Dielektrizitätstensor untersucht. Als Vorarbeit wurden Apparaturen zur Messung des polaren magnetooptischen Kerr-Effekts aufgebaut. Messungen an UxLa1-xS zeigen einen sehr großen magnetooptischen Kerr-Effekt, der sich auf das Zusammenspiel von magnetischer Ordnung und der großen Spin-Bahn-Kopplung des Urans zurückführen lässt. Die Hauptstruktur im magneto-optischen Kerr-Spektrum fällt dabei mit einem Minimum in der optischen Reflektivität zusammen und wurde im Rahmen einer Plasmakantenaufspaltung des Reflexions-koeffizienten für links- und rechtszirkular polarisiertes Licht diskutiert. Für höhere Urankonzentrationen lassen sich durch eine Analyse der diagonalen und nichtdiagonalen optischen Leitfähigkeit auch stärkere Interbandbeiträge nachweisen. Die Reduktion der Stärke eines 6d-5f-Übergangs mit abnehmender Urankonzen-tration kann dabei durch eine erhöhte f-Elektronen-Lokalisierung erklärt werden. Magnetooptische Messungen an dünnen CrPt3-Filmen unterschiedlicher Schicht-dicke zeigten eine deutliche Verschiebung der Strukturen verglichen mit bulk-Werten. Diese konnten im Rahmen eines Mehrschicht-Matrixmodells angepasst werden. Ferner wurde der Einfluß der Filmmorphologie auf die diagonalen optischen Konstanten mit Hilfe eines Effektiv-Medium-Ansatzes diskutiert.